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Casa > Productos > Circuitos integrados (ICS) > Lógica-especialidad lógica > SN74ABT8652DLG4
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SN74ABT8652DLG4

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Especificaciones
  • Número de pieza
    SN74ABT8652DLG4
  • Fabricante / Marca
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Cantidad de stock
    Existencias disponibles
  • Descripción
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
  • Estado Libre de plomo / Estado RoHS
    Sin plomo / Cumple con RoHS
  • Tensión de alimentación
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paquete del dispositivo
    28-SSOP
  • Serie
    74ABT
  • embalaje
    Tube
  • Paquete / Cubierta
    28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
  • Temperatura de funcionamiento
    -40°C ~ 85°C
  • Número de bits
    8
  • Tipo de montaje
    Surface Mount
  • Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Tiempo de entrega estándar del fabricante
    6 Weeks
  • Tipo de lógica
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • Estado sin plomo / Estado RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descripción detallada
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
  • Número de pieza base
    74ABT8652

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8646DWRG4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8652DW

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT863NTG4

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Descripción: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8652DL

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Descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8952DLRG4

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Descripción: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8652DLR

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
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SN74ABT8646DWR

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT863NT

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Descripción: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8952DL

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Descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74ABT8646DW

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Descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8646DWRE4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74ABT8952DLR

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Descripción: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
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SN74ABT8652DWR

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74ABT8652DWRG4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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Descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

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Descripción: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

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