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Casa > Productos > Circuitos integrados (ICS) > Lógica-especialidad lógica > SN74BCT8373ADWR
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SN74BCT8373ADWR

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Especificaciones
  • Número de pieza
    SN74BCT8373ADWR
  • Fabricante / Marca
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Cantidad de stock
    Existencias disponibles
  • Descripción
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Estado Libre de plomo / Estado RoHS
    Sin plomo / Cumple con RoHS
  • Tensión de alimentación
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Paquete del dispositivo
    24-SOIC
  • Serie
    74BCT
  • embalaje
    Tape & Reel (TR)
  • Paquete / Cubierta
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Temperatura de funcionamiento
    0°C ~ 70°C
  • Número de bits
    8
  • Tipo de montaje
    Surface Mount
  • Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Tipo de lógica
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Estado sin plomo / Estado RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Descripción detallada
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Número de pieza base
    74BCT8373

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74BCT8244ADWR

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
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SN74BCT8245ADW

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
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SN74BCT8374ADWRG4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8244ADW

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
Existencias disponibles
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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ADW

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricantes: Luminary Micro / Texas Instruments
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SN74BCT8373ANT

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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Descripción: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

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